发布时间：2010-09-29 08:28:03
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透过涂层技术
这个创新技术，利用单一的背反射回波测量金属的实际厚度。37DL PLUS可以显示金属和涂层厚度，其中每一种都相应调整材料声速。 可将测厚仪设置为仅显示金属的实际厚度。测量无需去除表面的油漆或涂层。 透过涂层测量使用新型D7906-***和D7908双晶片探头。
37DL PLUS用单一的背反射回波，自动计算和显示涂层厚度 (0.019英寸) 和金属厚度 (0.284英寸) 。 |
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温度补偿
材料温度的变化，引起声波在其中传播速度的变化，进而影响测量的精度。温度补偿功能允许用户输入校准块的温度值，并且手动或自动输入测量点当前(高)温度。37DL PLUS将显示在校正温度下的厚度值，并将其存入内置数据存储器。 校准温度与材料本身温度差值为932°F， 0.376英寸的厚度读数，将可补偿材料声速的变化。 |
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DB栅格视图
改善的栅格视图特点允许用户对应每个栅格点选择查看***小/***大值、报警或者A扫描的标记。 这允许用户通过文件迅速扫描和找出***小/***大值、报警或者A扫描的位置。 标记清晰地表明(H)高值报警和(L) 低值报警的厚度测量值。 |
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氧化皮/沉积物测量（选择项）
这一新增可选项，使用***的算法测量锅炉管道内壁氧化皮或沉积物的厚度。测量仪同时显示锅炉管道的金属基底厚度和氧化皮的厚度，从而有助于管道寿命的预测。此项应用，我们推荐使用M2017或M2091探头。 |
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双晶片测量方式：从激励脉冲到***个回波之间的******
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透过涂层测量：利用一次背反射回波（使用D7906-*** 和 D7908 探头），测量涂层厚度和真实金属厚度。
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透过漆层回波对回波：消除漆层或涂层，在两个连续背反射回波之间的时间间隔。
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单晶片测量模式：
模式1：测量激励脉冲和***个背反射回波之间的时间间隔。 模式2：测量在激励脉冲之后的***个界面回波与***个背反射回波之间的时间间隔。使用延迟线或水浸式探头。 模式3：测量在激励脉冲之后，位于***个界面回波之后的相邻背反射回波之间的时间间隔。使用延迟线或水 |
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浸式探头
氧化皮/沉积物测量功能（选择项）：测量金属基底厚度和管子内壁氧化皮沉积物的厚度。 |
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氧化皮沉积物的厚度范围：
M2017: 0.010 - 0.050英寸 (0.25 - 1.25 毫米) M2091: 0.006 - 0.050英寸 (0.15 - 1.25 毫米) |
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厚度范围：: 0.003 - 25.000 英寸 (0.080 - 635.00毫米), 取决于材料、探头、表面条件、温度和设置选择。
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材料速度速率范围: 0.020 - 0.551 英寸/微秒 (0.508 - 13.998 毫米/微秒)
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